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[单选题]用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率( )。
A.愈高愈好
B.愈低愈好
C.不太高的频率
D.较寻常为高的频率
[单选题]用单探头法探测两个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量( )。
A.面积大的,当量也一定大
B.面积大的,当量不一定比面积小的大
C.面积大的,当量反而比面积小的小
D.相等
[单选题]用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量( )。
A.面积大的,当量也一定大
B.面积大的,当量不一定比面积小的大
C.面积大的,当量反而比面积小的小
D.它们的当量相等
[判断题]用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率。( )
A.正确
B.错误
[判断题]用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。( )
A.正确
B.错误
[判断题]声束与缺陷主反射面所成的角叫做缺陷取向。
A.正确
B.错误
[判断题]选择探头K值时,应考虑缺陷的取向,应尽可能使声束与缺陷垂直。( )
A.正确
B.错误
[判断题]对于缺陷的定位和定量,选择探头的原则是声束应尽可能地狭窄,声束相对于缺陷要垂直入射,小直径晶片的探头在近场范围内声束窄,有利于缺陷的定位,适宜于较小厚度试件的检测。在某些情况下需要使能量更加集中,可采用线聚焦或点聚焦探头。
A.正确
B.错误
[判断题]在选择扫查方式时,应保证工件的整个检测区域有足够的声束覆盖,并使扫查过程中声束尽量与缺陷垂直。
A.正确
B.错误