材料分析测试技术
当前位置:
首页
>
学历类
>
大学试题
>
理学类
>
材料科学
> 材料分析测试技术
搜索
[单项选择]可以消除的像差是()。
A. 球差;
B. 像散;
C. 色差;
D. A+B。
[单项选择]德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是()。
A. 正装法;
B. 反装法;
C. 偏装法;
D. A+B。
[名词解释]俄歇电子
[单项选择]当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()
A. Cu;
B. Fe;
C. Ni;
D. Mo。
[名词解释]辐射的发射
[名词解释]蓝移
[单项选择]最常用的X射线衍射方法是()。
A. 劳厄法;
B. 粉末多法;
C. 周转晶体法;
D. 德拜法。
[名词解释]背散射电子
[单项选择]当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()
A. 短波限λ0;
B. 激发限λk;
C. 吸收限;
D. 特征X射线
[单项选择]若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是()。
A. 1000;
B. 10000;
C. 40000;
D. 600000。
[名词解释]伸缩振动
[单项选择]测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是()。
A. 保持同步1﹕1;
B. 2﹕1;
C. 1﹕2;
D. 1﹕0。
[单项选择]用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()
A. X射线透射学;
B. X射线衍射学;
C. X射线光谱学
[名词解释]质厚衬度
[名词解释]电子透镜
[单项选择]当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()
A. 光电子;
B. 二次荧光;
C. 俄歇电子;
D. A+C
[名词解释]溅射
[名词解释]物相鉴定
[单项选择]M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()
A. Kα;
B. Kβ;
C. Kγ;
D. Lα。
[单项选择]衍射仪法中的试样形状是()。
A. 丝状粉末多晶;
B. 块状粉末多晶;
C. 块状单晶;
D. 任意形状。
1
2
3
4
5
>
>>
相关试卷: