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发布时间:2024-01-06 23:46:44

[单选题](19080)111.直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,
两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的( )
A.5%
B.10%
C.20%
D.40%

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[单选题](19496)67.直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差5dB,材质衰减均为0.004dB/mm,
前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%,则后者的底面回波应为满幅度的( )
A.5%
B.10%
C.20%
D.40%
[单选题]直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为 0.004 dB/mm,前者底面回波为满幅度 80%时,则后者底面回波应为其( )。
A.5%
B.10%
C.20%
D.40%
[单选题]直探头探测250mm及500mm两锻件,后者与前者耦合差4dB,材质哀减均为0.004dB/mm,前者底面回波调至示波屏满幅度的80%,则后者底面回波应为满幅度的( )
A.5%
B.10%
C.20%
D.40%
[单选题]直探头探测厚250mm及500mm两锻件,后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%,则后者的底面回波应为满幅度的( )。
A.5%
B.10%
C.20%
D.40%
[填空题]直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面.主要用于探测与探测面( )的缺陷。
[单选题]纵波直射法探测平板形试件时,如果仪器工作条件和耦合状态良好,试件材质衰减很小,但探伤图形中既无缺陷波又无底波,这是由于试件中存在( )。
A.与探测面平行的大缺陷
B.与探测面垂直的大缺陷
C.与探测面倾斜的大缺陷
D.以上都可能
[判断题]纵波直探头发射垂直于探测面传播的横波进行检测。
A.正确
B.错误
[单选题]用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是( )。
A.尽可能靠近侧壁
B.离侧壁10mm
C.离侧壁一个探头直径的距离处
D.离侧壁二个探头直径的距离处
[单选题]直探头只能发射和接收纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于发现与探测面(  )的缺陷。
A.平行
B.垂直 
C.倾斜  
D.呈90°
[多选题]直探头探测厚钢板时,缺陷一次回波的显示情况可能有( )
A.出现在第一次底波之前
B.只有缺陷回波,没有底波
C.有缺陷回波,且底波降低或消失
D.缺陷回波、底波同时存在
E.出现在第一次底波之后
[单选题]某一频率为5MHz边长为10x10的方形晶片直探头,试计算探测钢材时,探头的指向角为( )。
A.8.41°;
B.7.48°;
C.7.03°;
D.6.7°;
[单选题](19078)109.在用直探头进行水浸法探伤时,探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次( )
A.缺陷回波
B.迟到回波
C.底面回波
D.侧面回波
[单选题](19614)185.晶片直径为20mm的直探头,在钢中测得其辐射角为10°,该探头的探测频率约为( )
A.2.5MHz
B.5MHz
C.4MHz
D.2MHz
[单选题]在用直探头进行水浸法探伤时,探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次( )。
A.缺陷回波
B.迟到回波
C.底面回波
D.侧面回波
[单选题]几种直探头在探测同一材料时,具有最大干涉区的是( D )。
A.1Pφ14
B.2.5pφ14
C.1Pφ20
D.2.5Pφ30
[单选题]0°探头进行铝热焊缝透声检测时,用直探头从踏面探测铝热焊轨底,当底波比正常焊缝底波低( )dB及以上时,焊缝判废。
A.13
B.14
C.15
D.16
[判断题]如果探测面粗糙,应该采用较高频率的探头探伤。
A.正确
B.错误

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