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发布时间:2024-05-14 07:47:04

[单项选择]利用测定底波下降范围来计算缺陷大小的方法,目前达到的现状是()
A. 在我国的探伤标准中已得到广泛应用
B. 优于AVG方法
C. 可用于小缺陷的测定
D. 以上都不对

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[填空题]采用大平底反射波探测锻件,在计算缺陷当量大小时,要注意缺陷是否在()以外
[判断题]磁粉探伤是利用缺陷部位所形成的漏磁场吸附磁粉从而显示缺陷的方法。
[单项选择]MRP是利用计算机计算物料需求和()的方法。
A. 消耗定额
B. 物料流转
C. 外部供应能力
D. 制定生产作业计划
[单项选择]在评定缺陷大小时通常采用当量法,现发现一个缺陷大小为Φ2mm平底孔当量,该缺陷的实际大小()
A. 大于Φ2mm平底孔
B. 小于Φ2mm平底孔
C. 等于Φ2mm平底孔
[单项选择]能够正确发现缺陷大小和形状的探伤方法是()。
A. x射线检验
B. 超声波探伤
C. 磁粉探伤
D. 着色检验
[判断题]缺陷所反射的回波大小取决于缺陷大小。
[单项选择]A型显示的探伤仪评定缺陷大小可利用的信息有()。
A. 缺陷的反射波高、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度
B. 缺陷的反射波高
C. 被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度
D. 自表面测得的缺陷延伸度
[判断题]缺陷所反射的回波大小只取决于缺陷大小。
[判断题]通常所确定的缺陷大小,就是所检测的实际缺陷的大小。
[多项选择]土地利用系数的计算方法有()。
A. 分指定作物计算
B. 标准计算
C. 按标准作物计算
D. 综合计算
E. 极差计算
[简答题]简述超声波直探头利用一次脉冲反射法识别缺陷的方法。
[简答题]简述超声波直探头利用多次脉冲反射法识别缺陷的方法。
[简答题]论述超声波直探头利用多次脉冲反射法识别缺陷的方法。
[单项选择]磁粉探伤是一种利用由缺陷产生的漏磁场对磁粉吸引现象为基本原理的无损检测方法,这种方法可用于:()。
A. 检测非铁磁性材料表面和近表面缺陷
B. 检测铁磁性材料表面和近表面缺陷
C. 检测铁磁性材料内部缺陷
D. 各种不同材料的分选
[判断题]无损检测就是利用声、光、热、电、磁、射线检测被检物的宏观缺陷,并决定其位置、大小、形状和种类的方法。
[单项选择]利用缺陷当量计算法定量时,其声程应大于()探头近场长度,结果才较准确。
A. 1.5倍
B. 2倍
C. 2.5倍
D. 3倍
[判断题]用试块对比法测得的缺陷大小与实际大小相等。
[单项选择]利用VOR系统进行定位计算的方法有().
A. ρ-ρ-ρ
B. 只有θ-θ
C. 只有ρ-θ
D. θ-θ和ρ-θ

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