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[判断题]熔核偏移是由两工件产热和散热条件不同引起的。
[单项选择]以下有关内部散射线和外部散射线的说法错误的是()
A. 由于工件内部形成的散射线称内部散射线
B. 工件以外物体形成的散射线称外部散射线
C. 射线照相时,到达胶片的散射线,最主要是来自工件以外物体形成的外部散射线
D. 射线照相时,到达胶片的散射线,最主要是来自被透照工件本身的内部散射
[单项选择]被检工件晶粒粗大,通常会引起:()
A. 草状回波增多
B. 信噪比下降
C. 底波次数减少
D. 以上全部
[单项选择]射线探伤中屏蔽散射线的方法是()
A. 铅箔增感屏和铅罩
B. 滤板和光阑
C. 暗盒底部铅板
D. 以上全是
[单项选择]射线照相难以检出的缺陷是()
A. 未焊透和裂纹
B. 气孔和未熔合
C. 夹渣和咬边
D. 分层和折叠
[单项选择]射线探伤有X射线探伤和γ射线探伤两种方法。对X射线来讲,当被检厚度()时,其灵敏度比γ射线高,透视时间短,速度快。
A. 大于50mm
B. 30~50mm
C. 小于30mm
[单项选择]散射线会影响射线照相底片的()。
A. 对比度
B. 清晰度
C. 对比度和清晰度
D. 以上都不对
[判断题]射线探伤是利用被检物质对射线衰减的不同程度来判别伤损的。
[单项选择]控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方?()
A. 窗口、空气及地面
B. 空气、试样和暗盒
C. 试件前面、边缘和背面
D. 试样、铅板和墙壁
[单项选择]由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为()
A. 像散效应
B. 半影
C. 图像失真度
D. 图像投影模糊
[单项选择]若声波在被检工件内传播,当试件的厚度为超声波半波波长的整数倍时,将引起()。
A. 透射
B. 反射
C. 共振
D. 波形转换
[填空题]在射线探伤中,影响缺陷检测的因素很多,除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、()、射线的入射方向及透照厚度差等。
[单项选择]散射线对照相底片的影响主要降低射线照相的()。
A. 对比度、清晰度
B. 对比度、灰雾度
C. 清晰度、灰雾度
D. 对比度、清晰度、灰雾度
[填空题]宽束X射线透照工件时,若入射线强度为I0,未散射的射线强度为I,散射线的强度为IS,则散射比的定义为()。