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[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
[判断题]探头的种类有直探头、斜探头、表面波探头、双晶探头等。
[单项选择]双晶探头用于探测工件（）缺陷。
A. 近表面
B. 表面
C. 内部
D. 平面形
[填空题]探头型式有直探头、（）、表面波探头、双晶探头等。
[填空题]检验近表面缺陷最有效的方法是采用（）探头
[填空题]超声波探伤，检验近表面缺陷，最有效的探头形式应是（）探头。
[简答题]在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
[判断题]双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
[填空题]在实际检测中，常用的探头有（）、（）、双晶探头、聚焦探头等。
[单项选择]以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）
A. 探测范围大
B. 盲区小
C. 工件中近场长度小
D. 杂波少
[单项选择]以下哪一条，不属于双晶探头的性能指标（）
A. 工作频率
B. 晶片尺寸
C. 探测深度
D. 近场长度
[单项选择]检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。
A. 可变角探头
B. 直探头
C. 斜探头
D. 收/发联合双晶探头
[判断题]ZBJ 04005-87标准规定了检验近表面缺陷的渗透探伤方法及缺陷显示痕迹的等级分类（）
[单项选择]周向磁化检验近表面缺陷时，使用直流电代替交流电的原因是：（）
A. 直流电可提高磁粉的流动性
B. 直流电易于达到磁场饱和
C. 交流电的趋肤效应使可发现缺陷的深度变小
D. 对环境条件无要求
[单项选择]用周向磁化法检验近表面的缺陷时，使用直流电代替交流电的原因是（）
A. 磁粉的流动性不再对检验有影响；
B. 直流电易于达到磁场饱和；
C. 交流电的趋肤效应使可发现缺陷的深度变小
D. 没有技术方面的理由
[单项选择]组合双晶直探头的压电晶片前装有（）
A. 阻尼块
B. 匹配线圈
C. 延迟块
D. 保护膜
