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发布时间:2024-01-04 22:32:40

[简答题]例举并描述硅片拣选测试中的三种典型电学测试(第十九章)

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A. 托盘
B. 箱
C. 单品
D. 货架
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A. 脆性岩石
B. 硬性岩石
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A. 主观镜头、客观镜头、运动镜头
B. 长镜头、短镜头、蒙太奇镜头
C. 关系镜头、渲染镜头、动作镜头
D. 水平角度镜头、垂直角度镜头、其他角度镜头
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[多项选择]三种典型的金属晶格类型是()
A. 体心立方
B. 面心立方
C. 密排立方
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A. 自我中心角色
B. 任务中心角色
C. 维护角色
D. 控制角色
[单项选择]沾污引起的电学缺陷引起(),硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。
A. 不会影响成品率
B. 晶圆缺陷
C. 成品率损失
D. 晶圆损失

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