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[判断题] 当设备各部分的介质损耗因数差别较大时,其综合的tanδ值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数值。 ( )
A.正确
B.错误
[判断题]当设备各部分的介质损耗因数差别较大时,其综合的tanδ值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数值。
A.正确
B.错误
[判断题]2.183.
当设备各部分的介质损耗因数差别较大时，其综合的tgδ值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数
值。( )
A.正确
B.错误
[判断题]2.183. 第183题
当设备各部分的介质损耗因数差别较大时,其综合的tgδ值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数 值。( )
A.正确
B.错误
[判断题]电容型变压器套管在安装前只须做两项试验:tanδ及电容量的测量。
A.正确
B.错误
[单选题]当电介质、外加电压及频率一定时，介质损耗功率P与tanδ成()，即可以用tanδ表示介质损耗的大小。
A.一定关系
B.反比关系
C.无关系
D.正比关系
[判断题]套管介质损耗角正切值tanδ和电容量测试是判断套管是否受潮的一个重要试验项目。
A.正确
B.错误
[判断题]2.297. 第297题
套管介质损耗角正切值tanδ和电容量测试是判断套管是否受潮的一个重要试验项目。
A.正确
B.错误
[多选题]根据套管介质损耗角正切值tanδ 和电容量的变化可以较灵敏地反映出( )和其他局部缺陷。
A.套管绝缘劣化
B.套管绝缘受潮
C.电容层短路
D.电容层漏油
[单选题]当电介质、外加电压及频率一定时，介质损耗功率P与 tanδ成( )，即可以用tanδ表示介质损耗的大小。
A.无关系
B.反比关系
C.正比关系
D.一定关系
[多选题] 电缆直流耐压及泄漏电流试验时,如电缆太长电容量较大时,为何要在高压侧直接测量泄漏电流( )。
A. 杂散电流的影响较大
B. 在低压侧的表计将不能反应高压侧的实际电压
C. 在高压端测量接线简单
D. 低压端不能接线
[单选题]3.162. 第162题
电容型设备介质损耗因数和电容量带电测试数据处理分析中,电容量比值(Cx/Cn)与初始测量值比较,初值差不超过()
A.±5%
B.±2%
C.±3%
D.±1%
[判断题]( ) 电容器的容量就是电容量。（ 电容量是电容的容量电容器的容量是无功功率 Q,）
A.正确
B.错误
[单选题]当常温下测得的tanδ较大时,应考查高温下的tanδ变化,若高温下tanδ明显( )。
A.减小则应认为绝缘存在缺陷
B.减小则应认为绝缘良好
C.增加则应认为绝缘存在缺陷
D.增加则应认为绝缘良好
[单选题]电容型设备如耦合电容器、套管、电流互感器等,其电容屏间绝缘局部层次击穿短路后,测得的电容量Cx( )。
A.不变
B.为零
C.变大
D.变小
