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[单选题]单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（ ）。
A.近场干扰
B.衰减
C.盲区
D.折射
[判断题]纵波直探头发射垂直于探测面传播的横波进行检测。（ ）
A.正确
B.错误
[判断题]直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷
A.正确
B.错误
[填空题]直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面（ ）的缺陷。
[简答题]接近探测面并与其平行的缺陷， 用下列哪种探头检出效果最佳
[判断题]75．直探头只能发射和接受纵波，晶片平行于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。（ ）
A.正确
B.错误
[单选题]直探头只能发射和接收纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于发现与探测面 ( )的缺陷。
A.平行
B.垂直
C.倾斜
D.呈90°
[单选题]接近探测面的且与其平行的缺陷，用下列探头哪一个检出效果最佳（ ）。
A.联合双探头
B.普通直探头
C.表面波探头
D.横波斜探头
[单选题]直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（ ）的缺陷。
A.平行
B.垂直
C.倾斜
D.呈90°
[判断题]斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
A.正确
B.错误
[填空题]斜探头主要用于探测与探测面（ ）或成一定角度的缺陷。
