更多"[判断题]提高探头频率，减小晶片尺寸不可以提高近表面缺陷的探测能力。"的相关试题:
[判断题]纵波直探头的主要参数是频率和晶片尺寸。
A.正确
B.错误
[判断题]双晶探头的主要参数为频率、晶片尺寸和声束汇聚区的范围。
A.正确
B.错误
[判断题]频率和晶片尺寸相同时，横波声束指向性比纵波好。
A.正确
B.错误
[单选题]探头晶片尺寸愈大，其灵敏度()。
A.越高
B.越低
C.不变
D.与尺寸无关
[多选题]探头晶片尺寸增加，()对探伤有利。
A.半扩散角减少
B.波束指向性变好
C.频率增加
D.超声波能量集中
[判断题]探头晶片面积相同，高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。
A.正确
B.错误
[单选题]探头晶片尺寸（），进场区长度增加，对近表面探伤不利。
A.增加
B.减小
C.不变
[判断题]探头中压电晶片背面加吸收块是为了提高机械品质因素，减少机械能损耗。
A.正确
B.错误
[判断题]压电晶片的震动频率即为探头的工作频率。
A.正确
B.错误
[单选题]较小的探头晶片尺寸发射的超声波束，其远场覆盖面积()。
A.较大
B.较小
C.不变
D.较窄
[判断题]超声波探伤，为减少近场长度应选用低频率或晶片直径较小的探头。
A.正确
B.错误
