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[填空题]利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时，AsKα线与PbLα线有干扰，则应选择（）线进行分析。
[填空题]影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。
[单项选择]X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。
A. 特征光谱
B. 连续光谱
C. 带状光谱
D. 散射线
[简答题]X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
[简答题]在X荧光分析中，已知某元素A，其分析强度Ia与浓度Ca保持线性关系，现称取含A元素的M试样2.0000克，试样制成玻璃片后，测得元素A的荧光强度I2为8Kcps；再称取M试样2.0000克，加入A元素0.0100克，制成玻璃片后，测得元素A的荧光强度I2为14Kcps，求M试样中A元素的质量百分数。
[填空题]X荧光分析基体的影响可分两大类，一类是（）引起的，另一类是（），表面结构等造成的。
[单项选择]X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。
A. 特征光谱
B. 散射线
C. 带状光谱
D. 连续光谱
[简答题]简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？
[简答题]简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
[单项选择]X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。
A. 特征光谱
B. 带状光谱
C. 连续光谱
[填空题]X荧光定量分析方法从样品制备的角度出发，可分为（）、熔融法、固体试样法、薄试样法。
[单项选择]分析试样各部分化学组成的一致性叫试样的（）。
A. 代表性
B. 均匀性
C. 统一性
[填空题]X荧光分析法基体的影响可分两大类，一类是（）引起的，另一类是样品粒度，表面结构等造成的。
[简答题]用摄谱法进行光谱定量分析时，要求将标准试样与分析试样在相同条件下，摄于同一感光板上。今用标准曲线法制得标准工作曲线，而试样摄于另一感光板上，可用什么方法在工作曲线上查得试样含量。
[单项选择]测定试样中的微量金属元素首选的仪器分析方法是（）
A. GC
B. ISE
C. AAS
D. UV
[填空题]光谱分析中有自吸现象的谱线，在试样中元素的含量增多时，自吸程度将（）。
[单项选择]在光谱定量分析中推算某一元素在试样中的含量靠（）。
A. 测出分析线对的强度
B. 找出被测元素的最后线
C. 选定分析线对
D. 谱线的高度
