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[判断题].检验近表面缺陷最好采用联合双晶探头。
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头
A.正确
B.错误
[判断题]( )收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
A.正确
B.错误
[单选题]检验近表面缺陷,最有效的方法是( )。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收发联合双晶探头
[单选题]双晶探头用于探测工件( )缺陷
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
[填空题]探头型式有直探头、 () 、表面波探头、双晶探头等。
[判断题]双晶探头的盲区比单晶探头的盲区大
A.正确
B.错误