更多"[填空题]探测面曲率愈大,宜用晶片尺寸( )( )的探"的相关试题:
[填空题]探测表面状态不佳时,将使探头与试件间的接触( )( );从而使检岀缺陷的灵敏度( ) ( )、始波( )( )和盲区( )( )
[填空题]直射法探测底面与探测面平的试件时,若仪器失调,耦合不良,都可导致底面回波高度( )( )此外还可能是由于( )( );( )( );( )( )引起的.
[填空题]《钢轨探伤管理办法》中规定探伤时根据探测面条件，适当进行表面增益补偿，一般为0～( )dB，单探头表面补偿应在DAC界面里进行设置。
[填空题]厚度有限的平板试件用底面多次回波法探测无缺陷部位时,超声波在探测面与底面之间( )( ),底面回波次数( )( ),各次回波间距( )( ),高度( )( )
[单选题]探头晶片尺寸愈大其灵敏度就( )。
A.越高
B.越低
C.不变
D.无关
[填空题]将纵波通过( )( )等介质斜入射至试件探测面进行探伤时,试件中可以有( ) ( );( )( );( )( );( )( )波型,与入射时的( )( )有关.
[填空题]用折射角50的探头前后扫查测定一与探测面垂直的缺陷,如探头移动距离为50mm, 则该缺陷的指示延伸度为( )( )mm,假如缺陷是倾斜的,并且已知它的最大和最小声程是100和70mm,则该缺陷的指示延伸度为( )( )mm.
[判断题]晶片发射波束的扩散程度主要取决于频率和晶片尺寸。
A.正确
B.错误
[判断题]相同条件下，若晶片直径（D）愈大或波长（λ）愈短（频率愈高），则指向角（θ0 ）就愈小。（ ）
A.正确
B.错误
[判断题]晶片尺寸大小影响近场区长度和波束指向性。（ ）
A.正确
B.错误
[单选题]超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是( )。
A.曲面探伤时可减少耦合损失
B.可减少材质衰减损失
C.辐射声能大且能量集中
D.以上全部
[判断题]提高探头频率，减小晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力。
A.正确
B.错误
[单选题]探头晶片尺寸( )，近场区长度增加，对近表面探伤不利。
A.增加
B.减小
C.不变
D.平方关系
[单选题]较小的探头晶片尺寸发射的超声波束，其远场覆盖面积( )。
A.较大
B.较小
C.不变
D.较窄
