更多"[单选题]用同样尺寸和频率的探头作( )探测 同一试件时,透"的相关试题:
[单选题]斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中( ).
A.没有底面回波;
B.有底面回波;
C. 有大型缺陷回波时,底面回波消失
[判断题]在探测同一材料时，频率越高则衰减愈大。
A.正确
B.错误
[单选题]纵波直射法探测平板形试件时,如果仪器工作条件和耦合状态良好,试件材质衰减很小,但探伤图形中既无缺陷波,又无底波,这是由于试件中存在( ).
A.与探测面平行的大缺陷;
B.与探测垂直的大缺陷;
C.与探测倾斜的大缺陷
[判断题]IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（ ）
A.正确
B.错误
[填空题]直射法探测底面与探测面平的试件时,若仪器失调,耦合不良,都可导致底面回波高度( )( )此外还可能是由于( )( );( )( );( )( )引起的.
[单选题]用IIW标准试块测定斜探头的折射角度,在探测任何声速的试件时,此值( ).
A.不变;
B.变化
[填空题]检查表面粗糙度较差的试件时,应使用较( )频率的探头和较( )的耦合剂。
[判断题]提高探头频率，减小晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力。
A.正确
B.错误
[判断题]频率越高，探头发出的超声波指向性越好。（ ）
A.正确
B.错误
[填空题]制备超声探伤的试件时,希望试件的材质( )( );形状( )( );表面粗糙度( )( )。
[单选题]37°和70°探头同接一个通道,探测同一深度的横孔时,37°探头出波位置( )。
A.与70°相同
B.在70°探头之前
C.在70°探头之后
D.与45°探头相同
