更多"[单选题]使用K型扫查阵列式探头探测焊缝,增加发收晶片数量主要是为了提"的相关试题:
[判断题]使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。( )
A.正确
B.错误
[填空题]使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数,主要是为了提高对焊缝的( )。
[单选题]用直探头探测焊缝两侧母材的目的是( )。
A.探测热影响区裂纹
B.探测可能影响斜探头探测结果的分层
C.提高焊缝两侧母材验收标准,以保证焊缝质量
D.以上都对
[判断题]双斜探头探测焊缝时，K型排列方式可得到底面回波
A.正确
B.错误
[判断题]用单斜探头探测焊缝轨底脚缺陷时,如果伤损存在于焊缝中心中部,则伤波和焊缝同时显示,伤波在轮廓波的前面。 ( )
A.正确
B.错误
[论述题] 说明用K2.5单探头探测焊缝轨底脚较小缺陷时的波形显示规律。
[判断题]用单斜探头探测焊缝轨底脚较小缺陷时,如果伤损存在于焊缝中心下部,则伤波显示在焊筋轮廓波前面。 ( )
A.正确
B.错误
[判断题]用单斜探头探测焊缝轨底脚较小缺陷时,如果伤损存在于焊缝中心上部,则伤波显示在焊筋轮廓波后面。 ( )
A.正确
B.错误
[判断题]用单斜探头探测焊缝轨底脚较小缺陷时，如果伤损存在于焊缝中心上部，则伤波显示在焊筋轮廓回波后。
A.正确
B.错误
[单选题]70°探头探测焊缝轨头颚部时,示波屏上有双波显示则应( )。
A.判轻伤
B.判轻伤有发展
C.判重伤
D.进行校对后确认
[单选题]70°探头探测焊缝轨头颏部时,示波屏上有双波显示则应( )。
A.判轻伤]
B.判轻伤有发展
C.判重伤
D.进行校对后确认
[单选题] TB/T2658.21—2007标准规定,使用单探头探测焊缝轨底部位时,灵敏度校准应使用( )。
A.GHT-1
B.GHT-5A区
C.GHT-5(B区)
D.GHT-5(C区)
[单选题] TB/T 2658.21-2007标准规定,使用单探头探测焊缝轨腰部位时,灵敏度校准应使用( )。
A.GHT-la
B.GHT-lb
C.GHT-5(A区)
D.GHT-5(B区)
[单选题]TB/T 2658.21-2007标准要求:使用单探头探测焊缝轨底部位时,灵敏度校准应使用( )。
A.GHT-1
B.GHT-5A区
C.GHT-5(B区)
D.GHT-5(C区)
[单选题]TB/T 2658.21-2007标准要求:使用单探头探测焊缝轨头部位时,灵敏度校准应使用( )。
A.GHT-1a
B.GHT-1b
C.GHT-5(A区)
D.GHT-5(B区)
[单选题]TB/T 2658.21—2007标准规定，使用单探头探测焊缝轨底部位时，灵敏度校准应使用（ ）。
A.GHT-1
B.GHT-5（A区）
C.GHT-5（B区）
D.GHT-5（C区）
[单选题]TB/T 2658.21—2007标准规定，使用单探头探测焊缝轨腰部位时，灵敏度校准应使用（ ）。
A.GHT-1a
B.GHT-1b
C.GHT-5（A区）
D.GHT-5（B区）
[单选题]TB/T 2658.21—2007标准规定，使用单探头探测焊缝轨头部位时，灵敏度校准应使用（ ）。
A.GHT-1a
B.GHT-1b
C.GHT-5（A区）
D.GHT-5（B区）
