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[单选题]靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到，因为( )。
A.声束扩散
B.材质衰减
C.仪器阻塞效应
D.折射
[单选题]靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（ ）。
A.声束扩散
B.材质衰减
C.仪器阻塞效应
D.折射
[填空题]靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有仪器___。
[判断题]靠近探头的干涉区，称为声阻抗。
A.正确
B.错误
[单选题]靠近探头的干涉区，常被称为（ ）
A.近场区
B.声阻抗
C.指数场
D.相位区
[简答题]怎样用GTS-60试块测70°探头缺陷检出能力的基准反射波
[简答题]怎样用GTS-60试块测0°探头缺陷检出能力的基准反射波
[简答题]怎样用GTS-60试块测37°探头缺陷检出能力的基准反射波
[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。( )
A.正确
B.错误
