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发布时间:2023-10-13 13:47:42

[多项选择]元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成正比。这就是()定律。此定律成为X射线光谱()分析的基础。
A. 莫塞莱
B. 布拉格
C. 定性
D. 定量

更多"元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成正比。这就是()定律。"的相关试题:

[单项选择]元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成()。
A. 反比
B. 正比
C. 规律
D. 无关
[判断题]X射线荧光光谱分析中,X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
[判断题]X射线荧光光谱分析中,对于不同元素的同名谱线,随着原子序数的增加,波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点,主要是由各种元素的化学成分决定的。
[单项选择]波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时,计数率和X射线真实强度不成正比,这种现象称作()现象。
A. 溢出
B. 漏计
C. 自吸
D. 吸收
[判断题]X射线荧光光谱分析中,各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长,随原子序数的大小而变化,与管电压和管电流的大小也有关。
[填空题]X射线光谱分析中是以特征光谱线为()
[判断题]X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时,原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
[判断题]波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言,灵敏度与分辨率成正比关系,高的色散率晶体往往反射率低。
[单项选择]某元素的特征光谱中含有波长λ1=450nm和λ2=750nm的光谱线,在光栅光谱中,这两种波长的谱线有重叠现象,重叠处的谱线λ2主极大的级数将是()
A. 2,3,4,5,…
B. 2,5,8,11,…
C. 2,4,6,8,…
D. 3,6,9,12,…
[判断题]X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
[判断题]X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。
[单项选择]波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。
A. 分光晶体
B. 光栅
C. 棱镜
D. 反射镜
[多项选择]X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。
A. 不连续
B. 连续
C. 散射
D. 相对
[多项选择]X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()
A. 定性分析
B. 定量分析
C. 都不是
[判断题]在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
[单项选择]X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。
A. 增大
B. 减小
C. 不变
D. 无变化
[多项选择]X射线管产生的X射线光谱,除连续X射线光谱外,还有阳极材料所产生的()X射线光谱,且()在连续谱之上。
A. 特征
B. 叠加
C. 散射
D. 发射
[判断题]X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。
[多项选择]波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。
A. 反射
B. 衍射
C. 折射
D. 特征

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