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[多选题]关于铜屏蔽层电阻比的试验方法说法正确的是（）
A.用双臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻
B.当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比增加时，表明铜屏蔽层的直流电阻增大，铜屏蔽可能被腐蚀
C.当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比减少时，表明附件中导体接点的接触电阻有增大的可能
D.用单臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻
[多选题]关于铜屏蔽层电阻比的试验方法说法正确的是（ABC）
A.用双臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻
B.当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比增加时，表明铜屏蔽层的直流电阻增大，铜屏蔽可能被腐蚀
C.当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比减少时，表明附件中导体接点的接触电阻有增大的可能
D.用单臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻
[多选题]2.56.
关于铜屏蔽层电阻比的试验方法说法正确的是 （ ）
A.用双臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻
B.当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比增加时，表明铜屏蔽层的直流电阻增大，铜屏蔽可能被腐蚀
C.当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比减少时，表明附件中导体接点的接触电阻有增大的可能
D.用单臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻
[单选题]4.218. 第218题
《变电检测管理规定第23分册绝缘电阻试验细则》:绝缘电阻试验时:a)现场试验前,应查勘现场,查阅相关 技术资料,包括( )、历年数据及相关规程;
A.设备初值
B.设备出厂试验数据
C.上次试验数据
D.故障数据
[单选题]铜屏蔽层电阻和导体电阻比的试验方法是用()测量在相同温度下的铜屏蔽层和导体的直流电阻。
A.单臂电桥
B.双臂电桥
C.四臂电桥
D.电容电桥
[判断题]变压器绕组直流电阻的测量是变压器试验中一个重要的试验项目。直流电阻试验可以检查出绕组内部导线、引线与绕组的压接质量，绕组所用导线的规格是否符合设计要求。
A.正确
B.错误
[多选题] 电抗器交接试验时需要测量绕组连同套管的直流电阻,下列说法正确的是:()。
A. 测量只要在运行分接头的上进行
B. 实测值与出厂值的变化规律应一致
C. 三相电抗器绕组直流电阻值相互间差值不应大于三相平均之2%
D. 与同温下产品出厂值比较相应变化不应大于2%
[判断题] 对大型变压器进行直流电阻试验时,增大试验电流,则可以减少试验时间,这主要是因为增大试验电流可以提高铁芯的磁通密度,使铁芯饱和,电感减少。( )
A.正确
B.错误
[单选题]铜屏蔽层电阻和导体电阻比的试验方法是用( )测量在相同温度下的铜屏蔽层和导体的直流电阻。
A.四臂电桥
B.单臂电桥
C.双臂电桥
D.电容电桥
[单选题] 三相变压器的直流电阻试验时,所用试验线长度应该()
A. 等长
B. 根据需求随意调节
C. 无需等长
D. 尽量的延长
[简答题]㜀71.泄漏电流试验与绝缘电阻试验相比有何优点?
[单选题]携带型短路接地线的试验项目包
括直流电阻试验，其试验周期为
(____)年。
A.1
B.2
C.3
D.5
[单选题]绝缘电阻试验合格判据要求绝缘电阻值不低于：（单位：MΩ)
A.10
B.5
C.20
D.100
[判断题] 铁芯穿芯螺杆绝缘电阻过低,会造成变压器整体绝缘电阻试验不合格。
A.正确
B.错误
[单选题]防雷装置检查、试验周期为一年一次，避雷器绝缘电阻试验（ ）一次，避雷器工频放电试验（ ）一次。
A.一年 一年
B.一年 三年
C.二年 三年
D.三年 三年
[单选题]1.82.第82题
变比试验应在直流电阻试验前进行，当具备试验条件时，还应对变压器进行消磁，保证测试结果的准确。
A.正确
B.错误
[判断题]4.78.第82题
变比试验应在直流电阻试验前进行,当具备试验条件时,还应对变压器进行消磁,保证测试结果的准确。
A.正确
B.错误
