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发布时间:2024-05-28 18:35:55

[多选题]锻件探伤时,那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波?()。
A.边缘效应
B.工件形状及外形轮廓
C.迟到波

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[多选题]锻件探伤时,那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波?()。
A.边缘效应
B.工件形状及外形轮廓
C.迟到波
[单选题]锻件探伤时,哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波()。
A.边缘效应
B.工件形状及外形轮廓
C.缺陷形状和取向
D.以上全部
[多选题]方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向叙述方法不正确()。
A.平行且靠近探测面
B.与声束方向平行
C.与探测面成较大角度
D.平行且靠近底面
[单选题]焊缝斜角探伤时,荧光屏上的反射波来自:()。
A.焊道
B.缺陷
C.结构
D.以上全部
[单选题]采用直探头探伤时,荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是()。
A.细晶组织
B.耦合剂不清洁
C.表面粗糙
D.粗晶组织
[单选题]0°探头反射式探伤时,当遇有水平裂纹,超声波在裂纹面上反射并被探头接收,荧光屏上显示回波并( )。
A.不报警
B.穿透报警
C.失波报警
D.产生报警
[判断题]锻件探伤中,如缺陷引起底波明显下降或消失时,说明锻件中存在较严重的缺陷。(  )
A.正确
B.错误
[单选题]锻件探伤时,如果用试块比较法对缺陷定量,对于表面粗糙的缺陷,缺陷实际尺寸会()。
A.大于当量尺寸
B.等于当量尺寸
C.小于当量尺寸
D.以上都可能
[单选题]锻件中缺陷的取向通常为()。
A.杂乱
B.平行于晶粒流向
C.垂直于晶粒流向
D.与晶粒流向成45°角

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