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发布时间:2023-12-13 04:46:34

[单选题]锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面,且缺陷稍有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是( )。
A.反射波峰尖锐
B.反射波稳定但较波幅低
C.反射波幅低,回波包络宽度较大
D.反射波幅高,回波包络宽度较大

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[单选题](19500)71.锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面,且缺陷稍有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是( )
A.反射波峰尖锐
B.反射波稳定但较波幅低
C.反射波幅低,回波包络宽度较大
[填空题]直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面   的缺陷。
[填空题]直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面.主要用于探测与探测面( )的缺陷。
[单选题]晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进人被探材料的检验方法称为( )。
A.直射法
B.斜射法
C.表面波法
D.以上均不正确
[单选题]直探头只能发射和接收纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于发现与探测面(  )的缺陷。
A.平行
B.垂直 
C.倾斜  
D.呈90°
[单选题](19015)46.晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为( )
A.垂直法
B.斜射法
C.表面波法
D.穿透法
[判断题]纵波直探头发射垂直于探测面传播的横波进行检测。
A.正确
B.错误
[判断题]以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深 度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。( )
A.正确
B.错误
[判断题]以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。( )
A.正确
B.错误
[单选题](19496)67.直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差5dB,材质衰减均为0.004dB/mm,
前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%,则后者的底面回波应为满幅度的( )
A.5%
B.10%
C.20%
D.40%
[单选题]以相同的探伤灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状 态一样,同处深度200mm的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷( )。
A.当量相同
B.锻件中的大
C.大小关系不确定
D.铸件中的大
[单选题]以相同的探伤灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷( )。
A.当量相同
B.铸件中的大
C.锻件中的大
D.都不对
[单选题]用探测面为平面的对比试块中φ2mm 平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试 件,发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷,则该缺陷的当量( )。
A.等于 φ 2mm 平底孔
B.比 φ 2mm 平底孔大
C.比 φ 2mm 平底孔小
D.不小于 φ 2mm 平底孔

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