[单选题]晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法称为:( )
A.直射法;
B.斜射法;
C.表面波法;
D.上述三种都不对.

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[单选题]探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法称为（）。
A.A. 斜射法
B.B. 水浸法
C.C. 接触法
D.D. 穿透法

[判断题]探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法称为斜射法。
A.正确
B.错误

[判断题]垂直法超声波探伤，检出效果最佳的缺陷是与探测面平行的缺陷。（）
A.正确
B.错误

[判断题]在超声波探伤中，直探头主要用于探测与探测面垂直的缺陷。
A.正确
B.错误

[判断题]超声波探伤中，斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
A.正确
B.错误

[判断题]超声波探伤中，不良的探测面影响伤损检测灵敏度。
A.正确
B.错误

[填空题]厚度有限的平板试件用底面多次回波法探测无缺陷部位时,超声波在探测面与底面之间( )( ),底面回波次数( )( ),各次回波间距( )( ),高度( )( )

[判断题]超声波探伤时施加耦合剂的主要原因是排除探头与探测面间的空气。（）
A.正确
B.错误

[单选题]为提高透入工件的超声波能量，在探头和探测面间施加一种介质，这种介质称为( )。
A.湿润剂
B.耦合剂
C.传声剂
D.润滑剂

[判断题]在一定探伤灵敏度下，从探测面到最近可探缺陷在被检工件中的深度是超声波探伤仪的盲区。
A.正确
B.错误

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