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发布时间:2023-12-06 06:59:15

[单选题]双晶探头用于探测工件( )缺陷。
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形

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A.正确
B.错误
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A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵 波单晶探头存在的阻塞。( )
A.正确
B.错误
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