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发布时间:2023-11-27 03:45:35

[多选题]在超声波探伤中,直探头能发现什么样的缺陷?双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?
A.直探头主要用于探测与探测面平行的缺陷
B.直探头主要用于探测与探测面垂直的缺陷
C.双晶探头用于探测工件近表面缺陷
D.双晶探头用于探测工件远表面缺陷

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[简答题]在超声波探伤中,直探头能发现什么样的缺陷?
[多选题]超声波直探头主要组成部分有( )。
A.接头
B.壳体
C.阻尼块
D.保护膜
E.晶片
[单选题]锻件超声波直探头检测时,那些因素可能会在荧光屏上一次底波之前产生非缺陷回波?
A.A、三角反射;
B.B、工件形状及外形轮廓;
C.C、波形转换;
D.D、以上都可能。
[单选题]超声波直探头影响性能的主要部件是( )。
A.接头
B.保护膜
C.壳体
D.晶片和阻尼块
[单选题]用直探头直接接触于钢板,对厚度方向进行超声波垂直法探伤,它最易检出的是( )。
A.最大表面与轧制面平行的分层缺陷
B.最大表面与轧制面垂直的横向缺陷
C.最大表面与轧制面倾斜的缺陷
D.与探测面倾斜 20°处的缺陷
[单选题]超声波直探头检测100mm厚钢板时,将钢板的一次底波调致荧光屏水平扫描线的0格刻度处,二次底波调致10格刻度处,这时仪器的扫描比例为:
A.A、0.5:1;
B.B、1:1;
C.C、1:2;
D.D、1:3。
[单选题]超声波斜探头,除和直探头相同的几个部分外,在晶片前方还装有( )。
A.线圈
B.楔块
C.保护膜
D.阻尼块
[单选题]在砂模铸件表面作直探头超声波检测时,应选用的检测条件是:
A.A、选用较低频率的探头;
B.B、采用较粘的耦合剂;
C.C、用软保护膜探头;
D.D、以上全是。
[多选题]直探头由晶片、阻尼块、外壳、保护膜组成。晶片的作用:在外加电场的作用下产生超声波和将机械振动波转换为电信号。阻尼块作用为()。保护膜的作用:保护晶片不受磨损。外壳的作用:支撑晶片阻尼块,保护膜以及接插件。
A.抑制晶片余振
B.吸收晶片背面反射干扰波
C.降低晶片机械品质因数
D.提高晶片机械品质因数
[单选题]双晶探头用于探测工件( )缺陷。
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
[判断题]双晶探头用于探测工件近表面缺陷。( )
A.正确
B.错误
[单选题] 常规无损探伤中,用于检查表面缺陷的方法有( )。
A.渗透探伤
B.磁粉和涡流
C.超声波和涡流
D.射线
[单选题]能发现缺陷,但一般情况下不能测出它们深度的探伤方法是( )。
A.垂直法
B.水浸法
C.斜射法
D.穿透法

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