更多"[单选题]2.84.第84题设备绝缘缺陷分为集中性缺陷和分布性缺陷两类"的相关试题:
[单选题]测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）
A.贯穿性缺陷
B.整体受潮
C.贯穿性受潮或脏污
D.整体老化及局部缺陷
[单选题] 165443测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是()。
A.贯穿性缺陷
B.整体受潮
C.贯穿性受潮或脏污
D.整体老化及局部缺陷
[单选题]3.978. 第978题测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )。——
A. 贯穿性缺陷
B. 整体受潮
C. 贯穿性受潮或脏污
D. 整体老化及局部缺陷
[单选题]测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）。
A.整体受潮
B.整体劣化
C.小体积试品的局部缺陷
D.大体积试品的局部缺陷
[多选题]测量绝缘电阻通常能够发现设备( )等绝缘缺陷。
A.整体老化
B.整体受潮
C.局部缺陷
D.贯穿性缺陷
[单选题]2.234. 第234题
测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )。
A.整体受潮
B.整体劣化
C.小体积试品的局部缺陷
D.大体积试品的局部缺陷
[判断题] 在一般情况下,介质损耗tanδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。( )
A.正确
B.错误
[判断题]不会导致绝缘击穿的试验叫做非破坏性试验。通过这类试验可以及时地发现设备的绝缘缺陷。
A.正确
B.错误
[判断题]根据测得设备绝缘电阻的大小，可以初步判断设备绝缘是否有贯穿性缺陷、整体受潮、
贯穿性受潮或脏污。
A.正确
B.错误
[判断题]3.115. 第115题
在一般情况下,介质损耗tanδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,一般对局部缺陷反映不灵敏,但对于小体 积设备,也能反映某些局部缺陷( )。
A.正确
B.错误
[判断题]3.94. 第94题
通过交流耐压试验，可以发现很多绝缘缺陷，尤其是对集中性绝缘缺陷的检查更为有效
A.正确
B.错误
[判断题]配电室设备绝缘试验超标准属于一般缺陷。
A.正确
B.错误
[单选题]中性点不接地系统对设备绝缘的要求（ ）
A.高
B.低
C.不变
D.都不对
[判断题]3.93. 第93题
测量tanδ对于检查电力变压器、互感器、电力电容器等设备的绝缘缺陷没有效果。
A.正确
B.错误
[判断题]线路、设备开展状态评价的主要依据为线路、设备的缺陷情况来进行，设备缺陷等级是重大及以上缺陷经临时处理降级后，则对应设备状态等级是严重。
A.正确
B.错误
[单选题]外绝缘表面缺陷情况不包括( )。
A.破损
B.杂质
C.发热
D.凸起
[判断题]交流耐压试验对于固体有机绝缘材料来说会使原来存在的绝缘缺陷进一步发展形成绝缘内部劣化的积累效应。
A.正确
B.错误
