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发布时间:2023-11-02 03:02:41

[单选题]在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为( )。
A.直射
B.扫查
C.反射
D.折射

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[判断题]在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。 ( )
A.正确
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B.错误
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D..应经常检查探头的位置和偏角。
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[填空题]采用超声波探伤时,为避免纵波的干扰,探头的入射角应在第一临界角至( )之间选择。
[单选题]采用超声波探伤时,为避免纵波的干扰,探头的入射角应在大于第一临界角( )第二临界角之间选择。
A.大于
B.小于
C.等于
D.小于等于
[多选题]超声波探伤时,影响缺陷反射波波高的因素有哪些
A.缺陷本身的大小、形状、取向、表面状态、性质及缺陷的位置。
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[多选题]超声波探伤时施加耦合剂的目的是( )。
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[单选题]超声波探伤时施加耦合剂的主要原因是( )。
A.润滑接触面尽量减少探头磨损
B.排除探头与探测面间的空气,否则几乎使超声波完全反射
C.晶片与探测面直接接触时就不会振动
D.使探头可靠地接地

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