题目详情
当前位置:首页 > 职业培训考试
题目详情:
发布时间:2023-12-09 20:36:28

[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。( )
A.正确
B.错误

更多"[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。( )"的相关试题:

[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。(   )
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。( )
A.正确
B.错误
[判断题]双晶探头用于探测工件近表面缺陷。( )
A.正确
B.错误
[判断题]探头型式有直探头、斜探头、表面波探头、双晶探头等。( )
A.正确
B.错误
[单选题]双晶探头用于探测工件( )缺陷。
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
[判断题]利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。
A.正确
B.错误
[单选题]检验近表面缺陷,最有效的探头是(  )。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
[多选题]在超声波探伤中,直探头能发现什么样的缺陷?双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?
A.直探头主要用于探测与探测面平行的缺陷
B.直探头主要用于探测与探测面垂直的缺陷
C.双晶探头用于探测工件近表面缺陷
D.双晶探头用于探测工件远表面缺陷
[填空题]超声波探伤,检验近表面缺陷,最有效的探头形式应是_____________探头。
[判断题]双晶探头只能用于纵波检测。
A.正确
B.错误
[判断题]双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。( )
A.正确
B.错误
[判断题]双晶直探头由于延迟块的存在,避免了始脉冲引起的盲区问题,可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。
A.正确
B.错误
[多选题]双晶探头的优点( )。
A.灵敏度高
B.杂波少
C.盲区小
D.近场区小
E.检测范围可调
[多选题] 双晶探头的优点为( ).
A.探测范围大
B.盲区小
C.工件中近场长度小
D.杂波少

我来回答:

购买搜题卡查看答案
[会员特权] 开通VIP, 查看 全部题目答案
[会员特权] 享免全部广告特权
推荐91天
¥36.8
¥80元
31天
¥20.8
¥40元
365天
¥88.8
¥188元
请选择支付方式
  • 微信支付
  • 支付宝支付
点击支付即表示同意并接受了《购买须知》
立即支付 系统将自动为您注册账号
请使用微信扫码支付

订单号:

请不要关闭本页面,支付完成后请点击【支付完成】按钮
恭喜您,购买搜题卡成功
重要提示:请拍照或截图保存账号密码!
我要搜题网官网:https://www.woyaosouti.com
我已记住账号密码