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[单选题]检验近表面缺陷，最有效的探头是( )。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
[填空题]超声波探伤，检验近表面缺陷，最有效的探头形式应是_____________探头。
[单选题]检验近表面缺陷,最有效的方法是（ ）。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。( )
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。( )
A.正确
B.错误
[判断题]表面波探头用于探测工件表面缺陷。( )
A.正确
B.错误
[单选题]表面波探头用于探测工件 ( )缺陷。
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
[判断题]双晶探头用于探测工件近表面缺陷。( )
A.正确
B.错误
[判断题]探头型式有直探头、斜探头、表面波探头、K型探头等。
A.正确
B.错误
[判断题]探头型式有直探头、斜探头、表面波探头、双晶探头等。( )
A.正确
B.错误
[判断题]提高探头频率，减小晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力
A.正确
B.错误
[判断题]双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。( )
A.正确
B.错误
[多选题]表面缺陷是指由（）后产生的表面缺陷或经过机加工才暴露在工件表面的缺陷，有一定的深宽比。磁痕显示浓密清晰、细直、轮廓清晰，呈直线状、弯曲线状或网状，磁痕显示重复性好。
A.热加工
B.冷加工
C.使用后
[判断题]双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。
A.正确
B.错误
