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[单选题]表面波探头用于探测工件 ( )缺陷。
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
[判断题]双晶探头用于探测工件近表面缺陷。( )
A.正确
B.错误
[单选题]双晶探头用于探测工件（ ）缺陷。
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
[多选题]在超声波探伤中，直探头能发现什么样的缺陷？双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
A.直探头主要用于探测与探测面平行的缺陷
B.直探头主要用于探测与探测面垂直的缺陷
C.双晶探头用于探测工件近表面缺陷
D.双晶探头用于探测工件远表面缺陷
[判断题]探头型式有直探头、斜探头、表面波探头、双晶探头等。( )
A.正确
B.错误
[单选题]横波斜探头产生的非缺陷回波主要有：（ ）、探头杂波、幻象波，表面波、草状回波、变形波等。
A.仪器杂波
B.轮廓回波
C.电噪声
D.干扰波
[判断题]近表面缺陷是指工件表面下的气孔、夹杂物、发纹和未焊透等缺陷。因缺陷处于工件近表面，未露出表面，所以磁痕显示宽而模糊，轮廓不清晰。
A.正确
B.错误
[多选题]表面缺陷是指由（）后产生的表面缺陷或经过机加工才暴露在工件表面的缺陷，有一定的深宽比。磁痕显示浓密清晰、细直、轮廓清晰，呈直线状、弯曲线状或网状，磁痕显示重复性好。
A.热加工
B.冷加工
C.使用后
[单选题]用入射角 36.5°的斜探头一次波探测钢工件时,测得某缺陷的声程为 141mm,缺陷距探测面的深度为( )。(有机玻璃 C1=2730m/s,钢 Cs=3200m/s)。
A.101mm
B.104mm
C.108mm
D.110mm
[单选题]用单探头法探测两个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量( )。
A.面积大的,当量也一定大
B.面积大的,当量不一定比面积小的大
C.面积大的,当量反而比面积小的小
D.相等
[单选题]用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量（）。
A.面积大的，当量也一定大
B.面积大的，当量不一定比面积小的大
C.面积大的，当量反而比面积小的小
D.它们的当量相等
[判断题]（）游标卡尺用于测量光滑工件的表面，有时也测量粗糙工件和运动着的工件。
A.正确
B.错误
[判断题]直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。( )
A.正确
B.错误
