更多"[判断题]使用窄脉冲宽频带探头可以提高近表面缺陷的探测能力。"的相关试题:
[判断题]减小晶片尺寸不可以提高近表面缺陷的探测能力
A.正确
B.错误
[多选题]提高近表面缺陷的探测能力应从下面三方面着手
A.用TR探头
B.使用窄脉冲宽频带探头
C.提高探头频率
D.减小晶片尺寸
[判断题]探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤方法，称为斜射法。
A.正确
B.错误
[判断题].检验近表面缺陷最好采用联合双晶探头。
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头
A.正确
B.错误
[判断题]( )收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
A.正确
B.错误
[判断题]探头型式有直探头、斜探头、表面波探头、K型探头等。( )
A.正确
B.错误
[判断题]双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利近表面缺陷的探测。
A.正确
B.错误
[单选题](2013年)检查金属材料和构件的表面和近表面缺陷。在检测时并不要求探头与工件接触的检测方法为()。
A.涡流检测
B.磁粉检测
C.荧光液体渗透检测
D.渗透检测
