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[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
A.正确
B.错误
[判断题]检验近表面缺陷时，最好选用联合双晶探头。( )
A.正确
B.错误
[判断题]双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
A.正确
B.错误
[判断题]探头的种类有直探头、斜探头、表面波探头、双晶探头等。
A.正确
B.错误
[单选题]检验近表面缺陷，最有效的探头是（ ）
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
[判断题]超声波探头按晶片分可分为单晶探头、双晶探头、多晶探头。
A.正确
B.错误
[多选题]与直探头相比，双晶探头( )。
A.盲区小
B.灵敏度高
C.近场长度小
D.有利于检测近表面缺陷
[多选题]双晶探头的优点（ ）
A.灵敏度高
B.杂波少
C.盲区小
D.近场区小
E. 检测范围可调
[判断题]双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。 ( )
A.正确
B.错误
[多选题]双晶探头的优点为（ ）
A.探测范围大
B.盲区小
C.工件中近场长度小
D.杂波少
[多选题]下列哪些是属于双晶探头的优点( )。
A.灵敏度高
B.近场区大
C.盲区小
D.杂波少
[判断题]双晶探头有两块压电晶片，中间夹有斜楔块。
A.正确
B.错误
[单选题]检验近表面缺陷，最有效的方法是（ ）。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
[判断题]双晶探头的主要参数为频率、晶片尺寸和声束汇聚区的范围。
A.正确
B.错误
