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[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。（ ）
A.正确
B.错误
[判断题]探头的种类有直探头、斜探头、表面波探头、双晶探头等。
A.正确
B.错误
[填空题]探头型式有直探头、( )、表面波探头、双晶探头等。
[判断题]( )收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
A.正确
B.错误
[判断题]双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
A.正确
B.错误
[多选题]与直探头相比，双晶探头( )。
A.盲区小
B.灵敏度高
C.近场长度小
D.有利于检测近表面缺陷
[多选题]双晶探头的优点（ ）
A.灵敏度高
B.杂波少
C.盲区小
D.近场区小
E. 检测范围可调
[单选题]双晶探头用于探测工件( )缺陷。
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
[多选题] 双晶探头的优点为( ).
A.探测范围大
B.盲区小
C.工件中近场长度小
D.杂波少
[多选题]下列哪些是属于双晶探头的优点( )。
A.灵敏度高
B.近场区大
C.盲区小
D.杂波少
[判断题]( )双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。
A.正确
B.错误
[简答题]在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?
[判断题]70°探头属双晶直探头。
A.正确
B.错误
