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[判断题]用任何方法作超声探伤时，为有效地检测缺陷应使超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直。（）
A.正确
B.错误
[单选题]用任何方法作超声探伤时，为有效地检测缺陷应使()。
A.超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直
B.超声波束与缺陷最大表面平行
C.底面回波次数尽可能地多
D.超声波束与试件底面垂直
[单选题]>用任何方法作超声探伤时,为有效地检测缺陷应使( )。
A.超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直
B.超声波束与缺陷最大表面平行
C.底面回波次数尽可能地多
D.超声波束与试件底面垂直
[判断题]用任何方法作超声波探伤时,为有效地检出缺陷,应使超声波束与缺陷最大表面平行。
A.正确
B.错误
[判断题]>用任何方法作超声波探伤时,为有效地检出缺陷,应使超声波束与缺陷最大表面平行。 ( )
A.正确
B.错误
[判断题]超声波探伤时，为有效地检出缺陷，应使超声波束与缺陷最大表面平行。
A.正确
B.错误
[判断题]用任何方法作超声波探伤时，为有效的检出缺陷，应使超声波波束与缺陷最大表面平行( ）
A.正确
B.错误
[判断题]用任何方法做超声波探伤时，为有效地检出缺陷，应使超声波束与缺陷最大表面平行
A.正确
B.错误
[判断题]用单晶片探头探伤时,探头只能发射或接收超声波。
A.正确
B.错误
[判断题]用单晶片探伤时，探头只能发射或接受超声波。（ ）
A.正确
B.错误
