更多"[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头。"的相关试题:
[判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
A.正确
B.错误
[判断题]探头的种类有直探头、斜探头、表面波探头、双晶探头等。
A.正确
B.错误
[填空题]探头型式有直探头、( )、表面波探头、双晶探头等。
[判断题]收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。( )
A.正确
B.错误
[判断题]双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
A.正确
B.错误
[判断题]超声波探头按晶片分可分为单晶探头、双晶探头、多晶探头。
A.正确
B.错误
[多选题]双晶探头的优点( )
A.灵敏度高
B.杂波少
C.盲区小
D.近场区小
E. 检测范围可调
[判断题]双晶探头只能用于纵波检测。( )
A.正确
B.错误
[多选题]以下属于双晶探头性能指标的是( )
A.工作频率
B.晶片尺寸
C.探测深度
D.近场长度
[多选题]以下属于双晶探头优点的是( )。
A.探测范围大
B.盲区小
C.工件中近场长度小
D.杂波少
[判断题]双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。
A.正确
B.错误