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[多项选择]X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。
A. 粒度效应
B. 矿物效应
C. 酸度变化
[多项选择]X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
A. 粒度效应
B. 吸收
C. 增强
D. 矿物效应
[填空题]把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
[填空题]采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
[单项选择]波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。
A. 分光晶体
B. 光栅
C. 棱镜
D. 反射镜
[多项选择]X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
A. 定性分析
B. 定量分析
C. 都不是
[简答题]X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
[判断题]X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
[填空题]X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
[判断题]进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
[多项选择]波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。
A. 闪烁
B. 半导体
C. 流气式
D. 光电倍增管
[单项选择]X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。
A. 增大
B. 减小
C. 不变
D. 无变化
[判断题]X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
[填空题]X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
[填空题]X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。
[判断题]X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
[多项选择]能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。
A. 能量
B. 波长
C. 半导体
D. 计数
[多项选择]X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。
A. 组成
B. 制样方法
C. 样品无裂纹
D. 样品无气孔
[多项选择]X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。
A. 谱线
B. 波长
C. 特征线
D. 强度
