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[填空题]X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
[判断题]进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
[填空题]把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
[判断题]X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
[多项选择]在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
A. 均匀性
B. 粒度效应
C. 辐射
D. 吸收-增强效应
[填空题]采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
[判断题]在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
[单项选择]X射线荧光分析连续X射线中短波限与（）有关。
A. X光管电流
B. X光管电压
C. X光管靶材
D. 连续谱
[单项选择]在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。
A. 一次X射线
B. 二次X射线
C. 由X射线管直接产生的X射线
D. 由高速电子流产生的X射线
[判断题]在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
[单项选择]在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。
A. 一次X射线
B. 二次X射线
C. 次级射线
D. X荧光
[判断题]X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
[判断题]X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
[单项选择]X射线荧光分析描述X射线波长与原了序数之间关系的定律是（）。
A. 莫塞莱定律
B. 郎伯定律
C. 反比例
D. 比耳定律
[判断题]X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。
[填空题]X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
[填空题]X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。
[多项选择]用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有：（）
A. Si-PIN探测器
B. Si（Li）探测器
C. 硅漂移探测器（SDD）
D. 正比计数器
