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[判断题]进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
[简答题]X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
[填空题]X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
[多项选择]在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
A. 均匀性
B. 粒度效应
C. 辐射
D. 吸收-增强效应
[多项选择]X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
A. 定性分析
B. 定量分析
C. 都不是
[判断题]在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
[判断题]X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
[填空题]采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
[单项选择]X射线荧光分析连续X射线中短波限与（）有关。
A. X光管电流
B. X光管电压
C. X光管靶材
D. 连续谱
[单项选择]在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。
A. 一次X射线
B. 二次X射线
C. 由X射线管直接产生的X射线
D. 由高速电子流产生的X射线
[判断题]X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
[单项选择]在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。
A. 一次X射线
B. 二次X射线
C. 次级射线
D. X荧光
[多项选择]X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
A. 粒度效应
B. 吸收
C. 增强
D. 矿物效应
[判断题]X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
[多项选择]X荧光分析法可以分析下列哪些样品类型（）。
A. 固体
B. 气体
C. 粉末
D. 液体
[单项选择]X射线荧光分析描述X射线波长与原了序数之间关系的定律是（）。
A. 莫塞莱定律
B. 郎伯定律
C. 反比例
D. 比耳定律
[填空题]X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
