题目详情
当前位置:首页 > 职业培训考试
题目详情:
发布时间:2023-09-29 01:18:55

[多项选择]在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关。
A. 均匀性
B. 粒度效应
C. 辐射
D. 吸收-增强效应

更多"在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层"的相关试题:

[单项选择]X射线荧光光谱法基本上是一种()分析法。
A. 相对
B. 绝对
C. 物理
D. 化学
[单项选择]波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。
A. 分光晶体
B. 光栅
C. 棱镜
D. 反射镜
[简答题]X射线荧光分析法有何特点?
[简答题]简述X射线荧光光谱分析的优点。
[单项选择]在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。
A. 一次X射线
B. 二次X射线
C. 次级射线
D. X荧光
[多项选择]X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。
A. 谱线
B. 波长
C. 特征线
D. 强度
[单项选择]X射线荧光分析连续X射线中短波限与()有关。
A. X光管电流
B. X光管电压
C. X光管靶材
D. 连续谱
[单项选择]在X射线荧光分析法中,X荧光是指()。
A. 一次X射线
B. 二次X射线
C. 由X射线管直接产生的X射线
D. 由高速电子流产生的X射线
[填空题]X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。
[判断题]X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
[简答题]X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?
[填空题]X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度直接影响()
[判断题]X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
[单项选择]X射线荧光分析描述X射线波长与原了序数之间关系的定律是()。
A. 莫塞莱定律
B. 郎伯定律
C. 反比例
D. 比耳定律
[判断题]X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。
[多项选择]X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()
A. 定性分析
B. 定量分析
C. 都不是
[多项选择]X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差。
A. 粒度效应
B. 吸收
C. 增强
D. 矿物效应
[判断题]X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。
[多项选择]X射线荧光光谱分析标准化的方法有()校正法。
A. 一点
B. 工作曲线
C. 两点
D. 标准加入

我来回答:

购买搜题卡查看答案
[会员特权] 开通VIP, 查看 全部题目答案
[会员特权] 享免全部广告特权
推荐91天
¥36.8
¥80元
31天
¥20.8
¥40元
365天
¥88.8
¥188元
请选择支付方式
  • 微信支付
  • 支付宝支付
点击支付即表示同意并接受了《购买须知》
立即支付 系统将自动为您注册账号
请使用微信扫码支付

订单号:

请不要关闭本页面,支付完成后请点击【支付完成】按钮
恭喜您,购买搜题卡成功
重要提示:请拍照或截图保存账号密码!
我要搜题网官网:https://www.woyaosouti.com
我已记住账号密码