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[判断题]双晶探头主要应用于近表面缺陷的探测。
A.正确
B.错误
[单选题]斜探头主要用于探测与探测面()或成一定角度的缺陷。
A.平行
B.垂直
C.倾斜
D.一致
[判断题]双晶探头主要用于检测近表面缺陷和已知缺陷的定点测量。
A.正确
B.错误
[简答题]在超声波探伤中，37度斜探头主要用于探测什么缺陷？
[判断题]提高探头频率，减小晶片尺寸不可以提高近表面缺陷的探测能力。
A.正确
B.错误
[判断题]用不同角度的探头对同一缺陷探测时，所得缺陷的深度是不同的。
A.正确
B.错误
[判断题]双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
A.正确
B.错误
[单选题]表面波探头用于探测工件()缺陷。
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
[单选题]用入射角36.5°的斜探头，一次波探测钢工件时，测得某缺陷的声程为141㎜，缺陷距探测面的深度为( )(有机玻璃C=2730m/S，钢Cs=3200m/S)。
A.101mm
B.104mm
C.108mm
D.110mm
[判断题]轨底单探头工作状态和探测范围设定与轨头单探头工作状态和探测范围设定不同。
A.正确
B.错误
