更多"[判断题]探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤方法，称为斜射法。"的相关试题:
[判断题]探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。
A.正确
B.错误
[判断题]选择较小尺寸的探头晶片探伤不利于对缺陷定位。（ ）
A.正确
B.错误
[简答题]探头晶片尺寸增加，对探伤有哪些有利因素？
[填空题]尖轨轨底有伤波显示时,条件允许应使用探头对缺陷进行两侧探伤校验，并结合<--NRC-->检查予以最后确认后判伤。
[单选题]探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（ ）。
A.斜射法
B.水浸法
C.接触法
D.穿透法
[单选题]选择较小尺寸的探头晶片探伤（ ）。
A.有利于发现缺陷
B.不利于对缺陷定位
C.可提高探伤灵敏度
D.有利于对缺陷定位
[判断题]检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。( )
A.正确
B.错误
[判断题]探头晶片尺寸增加，近场区长度增加，对探伤不利。
A.正确
B.错误
[判断题]用任何方法作超声波探伤时，为有效地检出缺陷，应使超声波束与缺陷最大表面平行。
A.正确
B.错误
[判断题]利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。
A.正确
B.错误
