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[单选题]选择较小尺寸的探头晶片探伤( )。
A.有利于发现缺陷
B.不利于对缺陷定位
C.可提高探伤灵敏度
D.有利于对缺陷定位
[判断题]探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤方法,称为斜射法。
A.正确
B.错误
[判断题]探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。
A.正确
B.错误
[简答题]探头晶片尺寸增加,对探伤有哪些有利因素?
[判断题]超声波探伤,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径较小的探头。
A.正确
B.错误
[判断题]用单晶片探头探伤时,探头只能发射或接收超声波。
A.正确
B.错误
[单选题]探头晶片尺寸( )时,半扩散角减少,波束指向性变好,超声波能量集中,对探伤有利。
A.增加
B.减小
C.不变
D.变化不确定
[判断题]同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比,近场区长度与晶片面积成正比。
A.正确
B.错误
[判断题]钢轨探伤仪0°探头探伤如无缺陷反射波,则探测范围内无缺陷存在。
A.正确
B.错误