更多"[判断题] 测量耦合电容器tanδ时，如有电场或磁场干扰，应采用移相"的相关试题:
[判断题]测量耦合电容器tanδ时，如有电场或磁场干扰，应采用移相法进行测量,但不能用倒相法或变频法等抗干扰法进行测量。
A.正确
B.错误
[单选题]耦合电容器 tanδ 的测量和分析比较时分别采用(____)。
A.正接线和对角接线
B.反接线和正接线
C.正接线和反接线
D.均采用正接线
[判断题]测量耦合电容器tanδ值不符合要求时，可在额定电压下复测，复测值如符合要求，可继续投运。
A.正确
B.错误
[判断题]测量耦合电容器tanδ值不符合要求时，可在额定电压下复测，复测值如符合10kV下的要求，可继续投运。
A.正确
B.错误
[判断题]断路器电容器 tanδ 测量通常采用反接线。
A.正确
B.错误
[多选题]电容器 tanδ 的测量能发现(____)。
A.电容器绝缘介质受潮
B.击穿等绝缘缺陷
C.制造过程中真空处理和剩余压力
D.引线端子焊接不良、有毛刺、铝箔或膜纸不平整
[单选题]在有强电场干扰的现场，测量试品介质损耗因数tanδ，有多种抗干扰测量方法，并各有一定的局限性，但下列说法是错误的是(____)。
A.选相倒相法：正、反相测得值的差别较大，有时可达±50%及以上
B.外加反干扰电源补偿法：补偿电源与干扰信号间的相位有不确定性
C.变频测量方法：测量的稳定性、重复性及准确性较差
D.“过零比较”检测方法：测量结果的分散性稍大
[单选题]电容器tanδ值测量通常采用(____)。检查瓷套绝缘状况，可使用(____)测试，它能反映瓷套裂纹及内壁受潮的绝缘缺陷。
A.正接线；反接线
B.正接线；正接线
C.反接线；正接线
D.反接线；反接线
[判断题]耦合电容器等电容器串联元件较多，tanδ能够灵敏反映个别元件短路、开路或劣化。
A.正确
B.错误
