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[单选题]探头在工件探测面上用手或自动移动的过程称为（ ）。
A.扫查
B. 测定
C.校正
D.调谐
[单选题]探头在工件探测面上用手工或自动移动的过程称为
A.扫查
B.测定
C.校正
D.调谐
[判断题]探头在工件探测面上用手工或自动移动的过程称为扫查。
A.正确
B.错误
[判断题]在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。 ( )
A.正确
B.错误
[单选题]双晶探头用于探测工件( )缺陷。
A.近表面
B.表面
C.内部
D.平面形
[单选题]在探头与工件探测面之间充填粘度较大的耦合剂或加入多层介质的耦合方法称为( )。
A.直接接触耦合法探伤
B.间接接触耦合法探伤
C.液浸耦合法探伤
D.上述都不对
[单选题]用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（ ）。
A.尽可能靠近侧壁
B.离侧壁10mm
C.离侧壁一个探头直径的距离处
D.离侧壁二个探头直径的距离处
[单选题]为改善超声波传递透入工件的条件和提高透入工件的超声波能量，在探头和探测面间施加一种介质，这种介质称为( )。
A. 湿润剂
B.耦合剂
C.传声剂
D.润滑剂
[判断题]为提高透入工件的超声波能量，在探头和探测面间施加一种介质，这种介质称
为湿润剂。
A.正确
B.错误
[单选题]为提高透入工件的超声波能量，在探头和探测面间施加一种介质，这种介质称
为（ ）。
A.湿润剂
B.耦合剂
C.传声剂
D.润滑剂
[单选题]用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量( )。
A.面积大的,当量也一定大
B.面积大的,当量不一定比面积小的大
C.面积大的,当量反而比面积小的小
D.相等
[单选题]用直探头从端部探测直径为d的细棒状工件时，在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生波型变换所致，其迟到波间距对于钢材为（ ）d。
A.0.15；
B.0.36；
C.0.76；
D.0.9；
