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[单选题]DW检验可用于检验（ ）。
A.多重共线性
B.异方差
C.自相关
D.回归系数的显著性
[单选题]自相关检验方法有（ ）。
I DW检验法
II ADF检验法
III LM检验法
IV回归检验法
A.I、II、III
B.I、III、IV
C.I、II、IV
D.II、III、IV
[单选题]异方差的检验方法有（ ）。
Ⅰ．DW检验法
Ⅱ．White检验
Ⅲ．Glejser检验等
Ⅳ．残差图分析法
A.Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ
B.Ⅰ、Ⅱ、Ⅳ
C.Ⅰ、Ⅲ、Ⅳ
D.Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ
[单选题]自相关检验方法有（ ）。
Ⅰ．DW检验法
Ⅱ．ADF检验法
Ⅲ．LM检验法
Ⅳ．回归检验法
A.Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ
B.Ⅰ、Ⅱ、Ⅳ
C.Ⅰ、Ⅲ、Ⅳ
D.Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ
[多选题]DW检验不适用一下列情况的序列相关检验（ ）。
A.高阶线性自回归形式的序列相关
B.一阶非线性自回归的序列相关
C.移动平均形式的序列相关
D.正的一阶线性自回归形式的序列相关
E.负的一阶线性自回归形式的序列相关
[不定项选择题]异方差的检验方法有（ ）。
Ⅰ.DW检验法
Ⅱ.White检验
Ⅲ.Glejser检验等
Ⅳ.残差图分析法
A.Ⅱ.Ⅲ.Ⅳ
B.Ⅰ.Ⅲ.Ⅳ
C.Ⅰ.Ⅱ.Ⅳ
D.Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ
[不定项选择题]异方差的检验方法有（ ）。
Ⅰ.DW检验法
Ⅱ.White检验
Ⅲ.Glejser检验等
Ⅳ.残差图分析法
A.Ⅱ.Ⅲ.Ⅳ
B.Ⅰ.Ⅲ.Ⅳ
C.Ⅰ.Ⅱ.Ⅳ
D.Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ
[多选题]以dl表示统计量DW的下限分布，du表示统计量DW的上限分布，则DW检验的不确定区域是（ ）。
A.du≤DW≤4-du
B.4-du≤DW≤4-dl
C.dl≤DW≤du
D.4-dl≤DW≤4
E.0≤DW≤dl
[不定项选择题]自相关检验方法有（ ）。
Ⅰ.DW检验法
Ⅱ.ADF检验法
Ⅲ.LM检验法
Ⅳ.回归检验法
A.Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ
B.Ⅰ.Ⅲ.Ⅳ
C.Ⅰ.Ⅱ.Ⅳ
D.Ⅱ.Ⅲ.Ⅳ
[多选题]DW检验不适用于下列情况下的一阶线性自相关检验（ ）。
A.模型包含有随机解释变量
B.样本容量太小
C.非一阶自回归模型
D.含有滞后的被解释变量
E.包含有虚拟变量的模型
[单选题]在DW检验中，当d统计量为2时，表明（ ）
A.存在完全的正自相关
B.存在完全的负自相关
C.不存在自相关
D.不能判定
[单选题]在DW检验中，当d统计量为0时，表明（ ）
A.存在完全的正自相关
B.存在完全的负自相关
C.不存在自相关
D.不能判定
[单选题]DW检验的零假设是（ρ为随机误差项的一阶相关系数）（ ）。
A.DW＝0
B.ρ＝0
C.DW＝1
D.ρ＝1
[单选题]应用DW检验方法时应满足该方法的假定条件，下列不是其假定条件的为（ ）
A.解释变量为非随机的
B.被解释变量为非随机的
C.线性回归模型中不能含有滞后内生变量
D.随机误差项服从一阶自回归
[单选题]DW检验的假设条件有（ ）。
I回归模型不含有滞后自变量引作为解释变量
Ⅱ随机扰动项满足μi=ρμi-1+υi
Ⅲ回归模型含有不为零的截距项
IV回归模型不含有滞后因变量作为解释变量
A.I、II、III、IV
B.I、II、III
C.II、III、IV
D.I、II、IV
